W ostatnich dniach jeden z członków zespołu ZFPiN odbył wizytę w Leibniz Institute IHP: Innovations for High Performance Microelectronics we Frankfurcie nad Odrą. Cykliczne staże w IHP-Frankfurt są już niemal tradycją w naszym zakładzie i pieczętują naszą wieloletnią współpracę naukową.

Nasz doktorant udał się na miejsce by zaprezentować swoje dotychczasowe wyniki badań oraz zapoznać się z infrastrukturą Instytutu. Wizyta miała również charakter przygotowawczy do planowanego na ten rok długoterminowego pobytu w ramach grantu badawczego NAWA skupiającego się na rozwijaniu współpracy międzynarodowej.

W ramach wspólnego projektu zrealizujemy z IHP niskotemperaturowe pomiary układów warstw metalicznych na PtSe2, wykorzystując takie techniki jak rentgenowska spektrometria fotoelektronów, spektroskopia Ramana, mikroskopia sił atomowych czy charakteryzacja elektryczna oparta na pomiarach efektu Halla.

Czekamy z niecierpliwością na pierwsze wyniki!!